非接觸式面電阻測(cè)試儀Statometer G

非接觸式面電阻測(cè)試儀Statometer G采用感應(yīng)式測(cè)量原理，無(wú)探針接觸導(dǎo)電膜層，既可測(cè)量表面導(dǎo)電也可測(cè)量表面不導(dǎo)電的導(dǎo)電玻璃和導(dǎo)電膜層，是目前Low-E鍍膜生產(chǎn)普遍選用的優(yōu)質(zhì)選擇。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.非電流接觸測(cè)試鍍膜層；

2.不摩擦刮傷測(cè)試涂層；

3.以Ohm/sq或Siemens/sq顯示數(shù)據(jù)；

4.大液晶顯示；

5.便攜式，具備數(shù)據(jù)記憶及232接口傳輸

6.儀器具備鋰電子供電

7.以nm級(jí)顯示膜層厚度及OD（optical density）值（選配）；

8.明亮圖像顯示數(shù)據(jù)

非接觸式面電阻測(cè)試儀Statometer G規(guī)格：

測(cè)量方法：高頻反應(yīng)（渦流感應(yīng)）

核心測(cè)量范圍：0.5…20.00Ω/□

可擴(kuò)展范圍：達(dá)50.00Ω/□

解析度：0.5 Ohm: 0.001Ω/□

2 Ohm以上: 0.01Ω/□

20 Ohm以上：0.1Ω/□

精確性：0.5…5.0Ω/□: 5%

5.0…20Ω/□: 7%

20…50Ω/□:10%

測(cè)量連續(xù)性：2秒鐘

串行接口：RS-232（通過(guò)插接座連接）

操作環(huán)境溫度：+10—+45℃

外形尺寸：23cm*7cm*4cm

重量：約510克